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技术文章/ARTICLE
超低阻双电四探针测试仪主要参数
点击次数：4680 发布时间：2015/8/11 9:58:12
超低阻双电四探针测试仪
为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，*小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的*小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
主要参数：
为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，*小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的*小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
主要参数：
1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□
2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA.
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.测试方式: 双电测量
7.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
8.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
9.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台
10.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
原创作者：宁波瑞柯微智能科技有限公司
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