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粉末电阻率测试仪

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硅材料测试仪-四探针法测试台

硅材料测试仪-四探针法测试台
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价格:电议

型号:FT-330

采购度:5326    原产地:中国大陆

发布时间:2015/3/27 14:44:35

产品简介:硅材料测试仪-四探针法测试台
探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,

在线询价咨询电话:0574-27976112,0574-27975197

详细信息
硅材料测试仪-四探针法测试台
产品简介

采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;

 

硅材料测试仪-四探针法测试台

技术参数

1.方块电阻范围:10-2105Ω/□

2.电阻率范围:10-3106Ω-cm

3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.3%读数

5.电阻精度:≤0.5%

 

ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.

硅材料测试仪-四探针法测试台

 按照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

硅材料测试仪-四探针法测试台

仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

 

 

 

 

更新时间:2024/4/19 9:06:50

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